如果我們要測試一個固定輸出20V，大電流，功率100W的直流電源，那我們就必須使用一臺電壓、電流及功率與之相當(dāng)，甚至更大的電子負(fù)載來吸收來自電源的功率。因為電源是一個恒定電壓輸出20V的恒壓CV源，測試時電子負(fù)載就需要工作在恒流CC模式，并設(shè)定其電流從0A至之間。當(dāng)然，如果是其他類型的恒流CC直流電源，電子負(fù)載就需要工作在恒壓CV模式，還有一些情況需要電子負(fù)載工作在CR或者CP模式。
 

　　通常如果被測的直流電源的功率較大，而單個的電子負(fù)載沒有足夠的功率，我們可能會希望將多個電子負(fù)載進(jìn)行串聯(lián)或并聯(lián)來擴(kuò)展電子負(fù)載的功率。如果是電流不夠，我們可以通過將多臺電子負(fù)載并聯(lián)起來，但如果電壓不夠，是否也可以使用幾臺電子負(fù)載進(jìn)行串聯(lián)呢？
 

　　如果你這樣做，估計你不但不能夠?qū)崿F(xiàn)你的測試目的，更可能得到的結(jié)局是損壞電子負(fù)載。
 

　　接下來我們就一起分析這是為什么？當(dāng)然，我們必須事先了解電子負(fù)載是如何工作的，電子負(fù)載是通過控制和調(diào)整跨接在其輸入端的FET功率場效應(yīng)管RDS，似乎將多臺電子負(fù)載串聯(lián)應(yīng)該沒有什么大問題。假如我們將兩臺串聯(lián)的電子負(fù)載都設(shè)置為CC模式，而且設(shè)置為*相同的電流值，譬如都設(shè)置為10.00A。但實際上電子負(fù)載不可能是的10.00A，如果其中一臺實際為9.99A，而另外一臺為10.01A。這樣一來，電子負(fù)載2就不可能達(dá)到其設(shè)置值，因此，它就不停的減小FET的RDS直到0(短路)，這樣所有的電壓就全部加載到電子負(fù)載1上使得它過壓損壞。
 

　　也有人建議兩臺電子負(fù)載分別工作于恒流CC模式和恒壓CV模式，而且這似乎可以實現(xiàn)設(shè)定電壓、電流點的工作狀態(tài)。但是如何讓這兩臺電子負(fù)載進(jìn)入到設(shè)定的CC及CV工作點？
 

　　假設(shè)我們先設(shè)定好電子負(fù)載，然后再將負(fù)載連接到被測電源，設(shè)定于CC模式的電子負(fù)載因為沒有任何電流，因此將FET的RDS設(shè)置為0(短路)；而設(shè)定于CV模式的電子負(fù)載因為沒有任何電壓，將FET的RDS設(shè)置為+∞(開路)。所以在電源接入的瞬間，電源上的所有電壓100V都加載到CV模式的負(fù)載上，就可能損壞。
 

　　有一種折中的方法，通過調(diào)節(jié)直流電源的上電電壓斜率，讓被測的電源慢慢的抬升其輸出電壓(需要被測電源具備這樣的能力)，這樣有可能讓這兩臺串聯(lián)的電子負(fù)載進(jìn)入設(shè)定的工作點。
 

　　即使這樣，如果在工作過程中出現(xiàn)任何異常，觸發(fā)電子負(fù)載的保護(hù)，兩臺電子負(fù)載分別會進(jìn)入短路或開路的情況，依然會導(dǎo)致電源的電壓100V加載到電子負(fù)載輸入端的情況，損壞電子負(fù)載。