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我司代理SIMI-2939半導(dǎo)體分立器件測(cè)試儀

更新時(shí)間：2013-04-20 點(diǎn)擊次數(shù)：3073

SIMI-2939半導(dǎo)體分立器件測(cè)試儀

產(chǎn)品特點(diǎn)

測(cè)試品種覆蓋面廣、測(cè)試精度高、電參數(shù)測(cè)試全、速度快、有良好的重復(fù)性和一致性、工作穩(wěn)定可靠，具有保護(hù)系統(tǒng)和被測(cè)器件的能力。被測(cè)器件可通過圖形顯示，系統(tǒng)軟件功能全、使用靈活方便、操作簡(jiǎn)單。系統(tǒng)軟件穩(wěn)定可靠、硬件故障率低，在實(shí)際測(cè)試應(yīng)用中各項(xiàng)技術(shù)指標(biāo)均可達(dá)到器件手冊(cè)技術(shù)指標(biāo)及國標(biāo)要求。

測(cè)試參數(shù)
1．二極管:VF、IR、BVR
2．穩(wěn)壓（齊納）二極管：VF、IR、BV Z
3．晶體管 Transistor（NPN型/PNP型）：VBE、ICBO、 LCEO、IEBO、BVCEO、BVCBO、BVEBO、hFE、VCESAT、VBESAT 、VBEON
4．可控硅整流器（晶閘管）：IGT、VGT、 IH、IL 、VTM
5．場(chǎng)效應(yīng)管：IGESF、IGSSF、 IGSSR、IGSS、VDSON、RDSON、VGSTH、IDSS、IDON 、gFS、 BVDGO、BVGSS
6．光電耦合器：VF 、IR、CTR、ICEO、BVCEO、VCESAT
7．三端穩(wěn)壓器：VO、ID

被測(cè)元件曲線圖：

隨機(jī)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試夾具

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